{"id":5044,"date":"2020-06-25T08:42:00","date_gmt":"2020-06-25T06:42:00","guid":{"rendered":"http:\/\/csi.pwszchelm.edu.pl\/?page_id=5044"},"modified":"2020-06-25T08:42:00","modified_gmt":"2020-06-25T06:42:00","slug":"laboratorium-badan-procesow-obrobki-kompozytow","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/?page_id=5044","title":{"rendered":"Laboratorium Bada\u0144 Proces\u00f3w Obr\u00f3bki Kompozyt\u00f3w"},"content":{"rendered":"

Wyposa\u017cenie laboratorium:<\/strong><\/p>\n

<\/div>
<\/div><\/div><\/div>\n
\" <\/span><\/i><\/span><\/a><\/div><\/div>zestaw dynamometryczny z przystawk\u0105 do toczenia Kistler, <\/span><\/div>\n

Si\u0142omierz piezoelektryczny do pomiaru trzech sk\u0142adowych si\u0142y skrawania Fx, Fy, Fz zbudowany z piezoelektrycznych czujnik\u00f3w pomiarowych zamontowanych pod wysokim napi\u0119ciem wst\u0119pnym mi\u0119dzy g\u00f3rn\u0105 p\u0142yt\u0105 a p\u0142yt\u0105 podstawy. Ka\u017cdy czujnik zawiera trzy pary p\u0142ytek kwarcowych. Jedna z tych par odpowiada za pomiar si\u0142y nacisku w kierunku osi Z,\u00a0 a pozosta\u0142e dwie odpowiadaj\u0105 za pomiar si\u0142 \u015bcinaj\u0105cych w kierunkach osi X i Y.<\/p>\n

<\/div>
<\/div><\/div><\/div>\n
\" <\/span><\/i><\/span><\/a><\/div><\/div>Zestaw dynamometryczny do pomiaru si\u0142 skrawania narz\u0119dzi obrotowych <\/span><\/div>\n
<\/div>
<\/div><\/div><\/div>\n
\" <\/span><\/i><\/span><\/a><\/div><\/div>Stanowisko do pomiaru i mocowa\u0144 termokurczliwych KENOVA V7-s <\/span><\/div>\n

Stanowisko KENOVA V7-s s\u0142u\u017cy do mocowania\/wymiany narz\u0119dzi stosowanych\u00a0 w procesie obr\u00f3bki, wykorzystywanych w urz\u0105dzeniach CNC stosuj\u0105cych uchwyty termokurczliwe. Podczas procesu mocowania\/wymiany narz\u0119dzia przeprowadzana jest pe\u0142na diagnoza usytuowania narz\u0119dzia w uchwycie wg. zadanych parametr\u00f3w.<\/p>\n

<\/div>
<\/div><\/div><\/div>\n
\" <\/span><\/i><\/span><\/a><\/div><\/div>Wywa\u017carka dynamiczna TD 2009 comfort<\/span><\/div>\n

Wywa\u017carka dynamiczna Haimer TD 2009 uchwyt\u00f3w narz\u0119dziowych\/narz\u0119dzi pracuj\u0105ca w dw\u00f3ch p\u0142aszczyznach. G\u0142\u00f3wn\u0105 rol\u0119 w zapewnieniu lepszej pracy maszyn odgrywaj\u0105 jednak dok\u0142adnie wywa\u017cone narz\u0119dzia, uchwyty narz\u0119dziowe, oraz niezawodne wrzeciona. Testy wskazuj\u0105, \u017ce godzina pracy niewywa\u017conym narz\u0119dziem skraca \u017cywotno\u015b\u0107 wrzeciona o cztery godziny, co po up\u0142ywie kwarta\u0142u mo\u017ce wymusi\u0107, nawet o rok wcze\u015bniejsz\u0105 konieczno\u015b\u0107 jego regeneracji lub wymiany. Dodatkowo trzeba liczy\u0107 si\u0119 z kilkudniowym przestojem maszyny,\u00a0 co w przypadku ci\u0105g\u0142ej produkcji jest ogromnym problemem (i oczywi\u015bcie kosztem).<\/p>\n

<\/div>
<\/div><\/div><\/div>\n
\" <\/span><\/i><\/span><\/a><\/div><\/div>Profilometr TOPO 02<\/span><\/div>\n

System pomiarowy TOPO 02 przeznaczony jest do pomiar\u00f3w i analizy struktury geometrycznej powierzchni metod\u0105 stykow\u0105, na powierzchniach p\u0142askich, cylindrycznych zewn\u0119trznych i wewn\u0119trznych. Przeznaczony jest do stosowania w laboratoriach Dzia\u0142\u00f3w Kontroli Jako\u015bci oraz laboratoriach naukowo-badawczych.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Wyposa\u017cenie laboratorium: Si\u0142omierz piezoelektryczny do pomiaru trzech sk\u0142adowych si\u0142y skrawania Fx, Fy, Fz zbudowany z piezoelektrycznych czujnik\u00f3w pomiarowych zamontowanych pod wysokim napi\u0119ciem wst\u0119pnym mi\u0119dzy g\u00f3rn\u0105 p\u0142yt\u0105 a p\u0142yt\u0105 podstawy. Ka\u017cdy czujnik zawiera trzy pary p\u0142ytek kwarcowych. Jedna z tych par odpowiada za pomiar si\u0142y nacisku w kierunku osi Z,\u00a0 a pozosta\u0142e dwie odpowiadaj\u0105 za pomiar… <\/p>\n

<\/div>\n

Czytaj wi\u0119cej<\/i><\/a><\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"footnotes":""},"class_list":["post-5044","page","type-page","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/5044","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fcomments&post=5044"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/5044\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":5051,"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/5044\/revisions\/5051"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fmedia&parent=5044"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}