{"id":4264,"date":"2019-09-13T08:47:55","date_gmt":"2019-09-13T06:47:55","guid":{"rendered":"http:\/\/csi.pwszchelm.edu.pl\/?page_id=4264"},"modified":"2021-05-10T14:21:24","modified_gmt":"2021-05-10T12:21:24","slug":"laboratorium-technik-i-systemow-pomiarowych","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/?page_id=4264","title":{"rendered":"Laboratorium Technik i System\u00f3w Pomiarowych"},"content":{"rendered":"<p><u><strong>Zakres pracy laboratorium:<\/strong> <\/u><\/p>\n<ol>\n<li>Nowoczesne i bardzo dok\u0142adne metody pomiaru cech geomertii przy wykorzystaniu wsp\u00f3\u0142rz\u0119dno\u015bciowej maszyny pomiarowej Zeiss Contura G2 i ramienia pomiarowego Faro Fusion.<\/li>\n<li>In\u017cynieria odwrotna z\u0142o\u017conych geometrii przy zastosowaniu skaner\u00f3w optycznych 3D Atos Compact i Core firmy GOM.<\/li>\n<li>Dynamiczne pomiary po\u0142o\u017cenia, przemieszczenia, pr\u0119dko\u015bci cia\u0142 lub uk\u0142ad\u00f3w przy u\u017cyciu systemu Pontos firmy GOM.<\/li>\n<li>Pomiar odkszta\u0142ce\u0144, napr\u0119\u017ce\u0144 przy wykorzystaniu systemu Aramis firmy GOM.<\/li>\n<li>Pomiar struktury powierzchni i jej parametr\u00f3w za pomoc\u0105 mikroskopu 3D Alicona.<\/li>\n<\/ol>\n<p><strong>\u00a0<\/strong><\/p>\n<h3 class=\"gdlr-heading-shortcode \"  style=\"font-size: 24px;font-weight: normal;\" >Wyposa\u017cenie:<\/h3>\n<div class=\"clear\"><\/div><div class=\"gdlr-space\" style=\"margin-top: 40px;\"><\/div>\n<div class=\"gdlr-frame-shortcode gdlr-align-left\"><div class=\"gdlr-frame frame-type-border\" > <div class=\"gdlr-image-link-shortcode\" style=\"max-width: 100%\" ><img decoding=\"async\" src=\"http:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2021\/05\/TechnikISystemowPomiarowych-1-scaled.jpg\" alt=\" \" \/><a href=\"http:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2021\/05\/TechnikISystemowPomiarowych-1-scaled.jpg\"  data-rel=\"fancybox\"  target=\"_blank\" ><span class=\"gdlr-image-link-overlay\">&nbsp;<\/span><span class=\"gdlr-image-link-icon\"><i class=\"fa fa-search\" ><\/i><\/span><\/a><\/div><\/div><span class=\"gdlr-frame-caption\">Wsp\u00f3\u0142rz\u0119dno\u015bciowa maszyna ZEISS Contura G2  <\/span><\/div>\n<p>S\u0142u\u017cy do bardzo dok\u0142adnych pomiar\u00f3w przestrzennych cz\u0119\u015bci o z\u0142o\u017conych kszta\u0142tach.<\/p>\n<div class=\"gdlr-shortcode-wrapper\"><div class=\"clear\"><\/div><div class=\"gdlr-item gdlr-divider-item\"  ><div class=\"gdlr-divider solid\"  style=\"width: 100%;\" ><\/div><\/div><\/div>\n<div class=\"gdlr-frame-shortcode gdlr-align-left\"><div class=\"gdlr-frame frame-type-border\" > <div class=\"gdlr-image-link-shortcode\" style=\"max-width: 100%\" ><img decoding=\"async\" src=\"http:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2021\/05\/TechnikISystemowPomiarowych-2-scaled.jpg\" alt=\" \" \/><a href=\"http:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2021\/05\/TechnikISystemowPomiarowych-2-scaled.jpg\"  data-rel=\"fancybox\"  target=\"_blank\" ><span class=\"gdlr-image-link-overlay\">&nbsp;<\/span><span class=\"gdlr-image-link-icon\"><i class=\"fa fa-search\" ><\/i><\/span><\/a><\/div><\/div><span class=\"gdlr-frame-caption\">Skaner optyczny 3D GOM compact scan Atos <\/span><\/div>\n<p>S\u0142u\u017cy do pomiar\u00f3w i odtwarzania kszta\u0142t\u00f3w cz\u0119\u015bci o bardzo z\u0142o\u017conych krzywoliniowych kszta\u0142tach.<\/p>\n<div class=\"gdlr-shortcode-wrapper\"><div class=\"clear\"><\/div><div class=\"gdlr-item gdlr-divider-item\"  ><div class=\"gdlr-divider solid\"  style=\"width: 100%;\" ><\/div><\/div><\/div>\n<p><strong>Pozosta\u0142e wyposa\u017cenie:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Przeno\u015bne wsp\u00f3\u0142rz\u0119dno\u015bciowe rami\u0119 pomiarowe FaroArm Fusion<\/li>\n<li>Elektroniczny mikroskop pomiarowy OVM JVT-250<\/li>\n<li>Cyfrowy projektor profili Sinpo JT-300<\/li>\n<li>Profilografometr CVR-R190<\/li>\n<li>D\u0142ugo\u015bciomierz Abbego JD2A<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>Tematy przyk\u0142adowych \u0107wicze\u0144 laboratoryjnych:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Pomiar dok\u0142adno\u015bci geometrycznej wa\u0142k\u00f3w<\/li>\n<li>Pomiar dok\u0142adno\u015bci geometrycznej otwor\u00f3w<\/li>\n<li>Pomiar \u0142uk\u00f3w zewn\u0119trznych i wewn\u0119trznych<\/li>\n<li>Pomiary k\u0105t\u00f3w zewn\u0119trznych i wewn\u0119trznych<\/li>\n<li>Sprawdzanie dok\u0142adno\u015bci narz\u0119dzi pomiarowych<\/li>\n<li>Pomiar chropowato\u015bci powierzchni<\/li>\n<li>Pomiar walcowych gwint\u00f3w zewn\u0119trznych<\/li>\n<li>Pomiar k\u00f3\u0142 z\u0119batych<\/li>\n<li>Pomiar narz\u0119dziami elektronicznymi &#8211; badanie zdolno\u015bci systemu pomiarowego<\/li>\n<li>Zastosowanie d\u0142ugo\u015bciomierza Abby\u2019ego w pomiarach<\/li>\n<li>Pomiar z zastosowaniem skanera pomiarowego<\/li>\n<li>Pomiar z zastosowaniem wsp\u00f3\u0142rz\u0119dno\u015bciowej maszyny pomiarowej Contura 2<\/li>\n<\/ul>\n<div class=\"gdlr-frame-shortcode gdlr-align-left\"><div class=\"gdlr-frame frame-type-border\" > <div class=\"gdlr-image-link-shortcode\" style=\"max-width: 100%\" ><img decoding=\"async\" src=\"http:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2020\/06\/1-81.jpg\" alt=\" \" \/><a href=\"http:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2020\/06\/1-81.jpg\"  data-rel=\"fancybox\"  target=\"_blank\" ><span class=\"gdlr-image-link-overlay\">&nbsp;<\/span><span class=\"gdlr-image-link-icon\"><i class=\"fa fa-search\" ><\/i><\/span><\/a><\/div><\/div><span class=\"gdlr-frame-caption\">Alicona InfiniteFocusG5 <\/span><\/div>\n<p>System optyczny s\u0142u\u017c\u0105cy do pomiar\u00f3w 3D, \u0142\u0105cz\u0105cy funkcjonalno\u015b\u0107 maszyn wsp\u00f3\u0142rz\u0119dno\u015bciowych i urz\u0105dze\u0144 do pomiaru powierzchni. Zasada dzia\u0142ania opiera si\u0119 na mikroskopii r\u00f3\u017cnicowania ogniskowego. Umo\u017cliwia zaawansowane pomiary geometrii, profilu i chropowato\u015bci. Urz\u0105dzenie pozwala zbiera\u0107 du\u017ce ilo\u015bci (do kilkudziesi\u0119ciu milion\u00f3w) punkt\u00f3w pomiarowych w stosunkowo kr\u00f3tkim czasie. Mo\u017cliwe jest r\u00f3wnie\u017c okre\u015blenie niepewno\u015bci pomiaru dla ka\u017cdego zebranego punktu 3D. System cechuje wysoka rozdzielczo\u015b\u0107 pionowa, nawet do 10\u00a0nm (w zale\u017cno\u015bci od zastosowanego obiektywu). Do typowych zastosowa\u0144 systemu mo\u017cna zaliczy\u0107 m.in. pomiary zu\u017cycia narz\u0119dzi skrawaj\u0105cych, kontrola precyzyjnych cz\u0119\u015bci wytwarzanych w bran\u017cach automotive, przemy\u015ble lotniczym czy technologii medycznej.<\/p>\n<div class=\"gdlr-shortcode-wrapper\"><div class=\"clear\"><\/div><div class=\"gdlr-item gdlr-divider-item\"  ><div class=\"gdlr-divider solid\"  style=\"width: 100%;\" ><\/div><\/div><\/div>\n<div class=\"gdlr-frame-shortcode gdlr-align-left\"><div class=\"gdlr-frame frame-type-border\" > <div class=\"gdlr-image-link-shortcode\" style=\"max-width: 100%\" ><img decoding=\"async\" src=\"http:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2020\/06\/1-90.jpg\" alt=\" \" \/><a href=\"http:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2020\/06\/1-90.jpg\"  data-rel=\"fancybox\"  target=\"_blank\" ><span class=\"gdlr-image-link-overlay\">&nbsp;<\/span><span class=\"gdlr-image-link-icon\"><i class=\"fa fa-search\" ><\/i><\/span><\/a><\/div><\/div><span class=\"gdlr-frame-caption\">Polytec TopMap Metro.Lab <\/span><\/div>\n<p>Precyzyjny interferometr \u015bwiat\u0142a bia\u0142ego o szerokim pionowym zakresie pomiarowym i rozdzielczo\u015bci pomiaru rz\u0119du nanometr\u00f3w. Umo\u017cliwia wykonywanie bezkontaktowych pomiar\u00f3w p\u0142asko\u015bci, r\u00f3wnoleg\u0142o\u015bci i r\u00f3\u017cnicy wysoko\u015bci du\u017cych powierzchni. Szczeg\u00f3lne zastosowanie znajduje przy pomiarze g\u0142\u0119boko\u015bci otwor\u00f3w o bardzo ma\u0142ej \u015brednicy. Jako metoda bezkontaktowa pozwala mierzy\u0107 elementy wykonane z mi\u0119kkich, delikatnych materia\u0142\u00f3w ulegaj\u0105cych odkszta\u0142ceniom w przypadku wykonywania pomiar\u00f3w metodami\u00a0 stykowymi.<\/p>\n<div class=\"gdlr-shortcode-wrapper\"><div class=\"clear\"><\/div><div class=\"gdlr-item gdlr-divider-item\"  ><div class=\"gdlr-divider solid\"  style=\"width: 100%;\" ><\/div><\/div><\/div>\n<div class=\"gdlr-frame-shortcode gdlr-align-left\"><div class=\"gdlr-frame frame-type-border\" > <div class=\"gdlr-image-link-shortcode\" style=\"max-width: 100%\" ><img decoding=\"async\" src=\"http:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2020\/06\/1-78.jpg\" alt=\" \" \/><a href=\"http:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/wp-content\/uploads\/2020\/06\/1-78.jpg\"  data-rel=\"fancybox\"  target=\"_blank\" ><span class=\"gdlr-image-link-overlay\">&nbsp;<\/span><span class=\"gdlr-image-link-icon\"><i class=\"fa fa-search\" ><\/i><\/span><\/a><\/div><\/div><span class=\"gdlr-frame-caption\">Reinshaw Equator 300 <\/span><\/div>\n<div class=\"gdlr-shortcode-wrapper\"><div class=\"clear\"><\/div><div class=\"gdlr-item gdlr-divider-item\"  ><div class=\"gdlr-divider solid\"  style=\"width: 100%;\" ><\/div><\/div><\/div>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Zakres pracy laboratorium: Nowoczesne i bardzo dok\u0142adne metody pomiaru cech geomertii przy wykorzystaniu wsp\u00f3\u0142rz\u0119dno\u015bciowej maszyny pomiarowej Zeiss Contura G2 i ramienia pomiarowego Faro Fusion. In\u017cynieria odwrotna z\u0142o\u017conych geometrii przy zastosowaniu skaner\u00f3w optycznych 3D Atos Compact i Core firmy GOM. Dynamiczne pomiary po\u0142o\u017cenia, przemieszczenia, pr\u0119dko\u015bci cia\u0142 lub uk\u0142ad\u00f3w przy u\u017cyciu systemu Pontos firmy GOM. Pomiar odkszta\u0142ce\u0144,&#8230; <\/p>\n<div class=\"clear\"><\/div>\n<p><a href=\"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/?page_id=4264\" class=\"excerpt-read-more\">Czytaj wi\u0119cej<i class=\"fa fa-angle-double-right icon-double-angle-right\"><\/i><\/a><\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":4265,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"footnotes":""},"class_list":["post-4264","page","type-page","status-publish","has-post-thumbnail","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/4264","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fcomments&post=4264"}],"version-history":[{"count":7,"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/4264\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":5420,"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/4264\/revisions\/5420"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/media\/4265"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/csi.panschelm.edu.pl\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fmedia&parent=4264"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}